（顯示價格供參考，實際價格以報價為準(zhǔn)）
熱流儀搭配Keysight進行功率器件高低溫測試
高低溫沖擊氣流儀TS系列+TCU800P高溫?zé)崤_搭配是德B1500系列功率分析儀進行功率器件高低溫測試。
設(shè)計人員現(xiàn)在可以使用TCU800P高低溫冷熱臺或TS系列高低溫沖擊氣流儀在-100℃ - +350℃寬溫度范圍內(nèi)對 IGBT, RF Device, MOSFET, Hi Power LED 等功率器件自動化熱測試解決方案。兩者都直接可與Keysight B1500系列集成，以限度地減少在將較長電纜布線到外部溫度測試設(shè)備時引入的測量問題。
TCU800P高低溫冷熱臺(RT至+250°C)和高低溫沖擊氣流儀(-70至+225°C)滿足高熱和極冷測試應(yīng)用的需求，實現(xiàn)對IGBTs 和MOSFETs 之類的power device 的溫度特性測試。
TS560高低溫沖擊氣流儀
ThermoTST TS560是—臺精密的高低溫沖擊氣流儀，具有更廣泛的溫度范圍-70℃到＋225℃，提供了溫度轉(zhuǎn)換測試能 力。溫度轉(zhuǎn)換從-50℃到+ 125℃之間轉(zhuǎn)換約10秒 ；經(jīng)長期的多工況驗證，滿足各類生產(chǎn)環(huán)境和工程環(huán)境的要求。
熱流儀搭配Keysight進行功率器件高低溫測試
TCU800P是—種突破性的產(chǎn)品， 每個系統(tǒng)包含可定制化的熱板（臺）和—個獨立的溫度控制單元；在RT至+250℃范圍內(nèi)提供穩(wěn)定且高精度的溫度環(huán)境?？捎糜贙eysight B1505A 和B1506A（Power Device Analyzers）搭配測試的溫度控制平板，實現(xiàn)對IGBTs 和MOSFETs 之類的power device 的溫度特性測試。
TCU800P的熱板設(shè)計可安裝于Keysight B1505A 和B1506A功率分析儀測試腔內(nèi)，減少因為布線引起的測量問題；通過優(yōu)化熱臺結(jié)構(gòu)設(shè)計，降低了傳統(tǒng)熱臺漏電流產(chǎn)生的電噪聲對測試結(jié)果影響。
TCU800P是—種突破性的產(chǎn)品， 每個系統(tǒng)包含可定制化的熱板（臺）和—個獨立的溫度控制單元；在RT至+250℃范圍內(nèi)提供穩(wěn)定且高精度的溫度環(huán)境?？捎糜贙eysight B1505A 和B1506A（Power Device Analyzers）搭配測試的溫度控制平板，實現(xiàn)對IGBTs 和MOSFETs 之類的power device 的溫度特性測試。
TCU800P的熱板設(shè)計可安裝于Keysight B1505A 和B1506A功率分析儀測試腔內(nèi)，減少因為布線引起的測量問題；通過優(yōu)化熱臺結(jié)構(gòu)設(shè)計，降低了傳統(tǒng)熱臺漏電流產(chǎn)生的電噪聲對測試結(jié)果影響。
TCU800P是—種突破性的產(chǎn)品， 每個系統(tǒng)包含可定制化的熱板（臺）和—個獨立的溫度控制單元；在RT至+250℃范圍內(nèi)提供穩(wěn)定且高精度的溫度環(huán)境。可用于Keysight B1505A 和B1506A（Power Device Analyzers）搭配測試的溫度控制平板，實現(xiàn)對IGBTs 和MOSFETs 之類的power device 的溫度特性測試。
TCU800P的熱板設(shè)計可安裝于Keysight B1505A 和B1506A功率分析儀測試腔內(nèi)，減少因為布線引起的測量問題；通過優(yōu)化熱臺結(jié)構(gòu)設(shè)計，降低了傳統(tǒng)熱臺漏電流產(chǎn)生的電噪聲對測試結(jié)果影響。
