成都中冷低溫科技有限公司
詳細(xì)摘要： （售價僅供參考）桌上型高低溫冷熱臺ATC860，接觸式高低溫設(shè)備是成都中冷研發(fā)的針對芯片可靠性測試的專用設(shè)備，通過測試頭與待測器件直接貼合的方式實現(xiàn)能量傳遞，與...
產(chǎn)品型號：所在地：成都市更新時間：2025-04-21 在線留言
詳細(xì)摘要： （售價僅供參考）zonglen高低溫氣流溫度沖擊系統(tǒng)氣流儀，溫度范圍-70℃到+225℃，溫度轉(zhuǎn)換測試能力。溫度轉(zhuǎn)換從-55℃到+125℃之間轉(zhuǎn)換約10秒 ; ...
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詳細(xì)摘要： （售價僅供參考）Thermal Inducing System高低溫氣流儀TS780，溫度范圍-80℃到+225℃，溫度轉(zhuǎn)換測試能力。溫度轉(zhuǎn)換從-55℃到+12...
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詳細(xì)摘要： （售價僅供參考）桌面式 氣流儀維修服務(wù)，接觸式高低溫設(shè)備是以色列Mechanical Devices公司研發(fā)的針對芯片可靠性測試的專用設(shè)備，通過測試頭與待測器件...
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詳細(xì)摘要： zonglen高低溫載物臺Thermal CHUCK，是一種用于微電子器件測試的重要設(shè)備，也被稱為探針臺載物臺。它可以在高低溫環(huán)境下進(jìn)行微電子器件的測試，因此具...
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詳細(xì)摘要： zonglen高低溫載物臺，是一種用于微電子器件測試的重要設(shè)備，也被稱為探針臺載物臺。它可以在高低溫環(huán)境下進(jìn)行微電子器件的測試，因此具有高可靠性和高精度。
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詳細(xì)摘要： 高低溫載物臺CHUCK卡盤，是一種用于微電子器件測試的重要設(shè)備，也被稱為探針臺載物臺。它可以在高低溫環(huán)境下進(jìn)行微電子器件的測試，因此具有高可靠性和高精度。
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詳細(xì)摘要： ECM-HAST CAF測試系統(tǒng)HAST高加速老化試驗箱，CAF測試也叫離子遷移測試，CAF測試是一種用于評估材料中離子遷移性質(zhì)的實驗方法。該測試通常用于檢測包...
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詳細(xì)摘要： CAF-HAST CAF測試系統(tǒng)HAST高加速老化試驗箱，CAF測試也叫離子遷移測試，CAF測試是一種用于評估材料中離子遷移性質(zhì)的實驗方法。該測試通常用于檢測包...
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詳細(xì)摘要： （售價僅供參考）ThermoTST ATC840桌面式快速溫變試驗機(jī)，接觸式高低溫設(shè)備是成都中冷研發(fā)的針對芯片可靠性測試的專用設(shè)備，通過測試頭與待測器件直接貼合...
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詳細(xì)摘要： GTC80 zonglen氣體快速溫變測試機(jī)，ThermoTST GC120氣體制冷機(jī)采用 混合制冷劑自動制冷層疊技術(shù)，以提供超低溫而不需要液氮的成本、風(fēng)險或不...
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詳細(xì)摘要： 微波器件高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)HAST，微波器件高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)是一種用于評估微波器件在很差條件下的性能和可靠性的測試系統(tǒng)。該系統(tǒng)通過施加高加速偏...
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詳細(xì)摘要： 高低溫載物臺Thermo chuck探針臺卡盤，是一種用于微電子器件測試的重要設(shè)備，也被稱為探針臺載物臺。它可以在高低溫環(huán)境下進(jìn)行微電子器件的測試，因此具有高可...
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詳細(xì)摘要： Thermochuck熱控卡盤 晶圓臺，是一種用于微電子器件測試的重要設(shè)備，也被稱為探針臺載物臺。它可以在高低溫環(huán)境下進(jìn)行微電子器件的測試，因此具有高可靠性和高...
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詳細(xì)摘要： HAST測試機(jī)Burn-in Chamber高加速老化測試，試驗箱適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等...
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詳細(xì)摘要： SMC chiller溫控器冰水機(jī)HRS090維修服務(wù)，半導(dǎo)體專用溫控裝置（Chiller）主要用于半導(dǎo)體制程中對反應(yīng)腔室溫度的精準(zhǔn)控制，主要由熱交換器、循環(huán)泵...
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詳細(xì)摘要： 高低溫載物臺CHUCK探針臺卡盤，是一種用于微電子器件測試的重要設(shè)備，也被稱為探針臺載物臺。它可以在高低溫環(huán)境下進(jìn)行微電子器件的測試，因此具有高可靠性和高精度。
產(chǎn)品型號：所在地：成都市更新時間：2025-04-21 在線留言
詳細(xì)摘要： 中冷HAST高低溫試驗箱非飽和度老化試驗機(jī)，試驗箱適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試...
產(chǎn)品型號：所在地：成都市更新時間：2025-04-21 在線留言
詳細(xì)摘要： HAST高低溫試驗箱 老化試驗機(jī)，試驗箱適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗，使用于...
產(chǎn)品型號：所在地：成都市更新時間：2025-04-21 在線留言
詳細(xì)摘要： HAST高低溫試驗箱非飽和度老化試驗機(jī)，試驗箱適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗，...
產(chǎn)品型號：所在地：成都市更新時間：2025-04-21 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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