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SIKORA五大檢測(cè)黑科技即將亮相歐洲 還有現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)等你來(lái)

2019-07-03 09:34:19 來(lái)源:CPRJ中國(guó)塑料橡膠 閱讀量:15939 評(píng)論
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  【塑料機(jī)械網(wǎng) 科技創(chuàng)新】于2019年10月16日至23日舉行的K 2019期間,SIKORA(10號(hào)展廳,H21展位)為軟管和管材、板材以及塑料行業(yè)推出了一系列用于質(zhì)量控制和工藝優(yōu)化的廣泛創(chuàng)新系統(tǒng)組合。
 
  觀眾可以攜帶他們的塑料顆粒在科學(xué)測(cè)驗(yàn)系統(tǒng)PURITY CONCEPT V進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試和分析。
 
  在“Innovation Corner”區(qū)域, SIKORA也歡迎觀眾就他們關(guān)于軟管、管材測(cè)量技術(shù)以及塑料應(yīng)用提出創(chuàng)意見解。

董事會(huì)的Harry Prunk 介紹公司在K展的亮點(diǎn)展品
 
  CENTERWAVE 6000 —— 用于測(cè)量直徑達(dá)1,600 mm的軟管和管材
 
  CENTERWAVE 6000/1600的,意味著SIKORA推出了一個(gè)全新尺寸的測(cè)量系統(tǒng)。該系統(tǒng)專門用于擠出過程中塑料管和管道的質(zhì)量控制。
 
  基于其獨(dú)特設(shè)計(jì),該系統(tǒng)可測(cè)量直徑為630至1,600 mm的管材。CENTERWAVE 6000是基于創(chuàng)新的毫米波技術(shù),可以連續(xù)、完整、360度地測(cè)量管道周長(zhǎng)、壁厚、直徑、橢圓度、內(nèi)型和下垂度。
 
  該系統(tǒng)可快速實(shí)現(xiàn)標(biāo)稱尺寸、沒有啟動(dòng)廢料,帶來(lái)高質(zhì)量保證和流程佳控制。此外,不需要任何耦合介質(zhì),可以且獨(dú)立地測(cè)量,不受外部影響,例如溫度或塑料材料等,并且不需要校準(zhǔn)。

CENTERWAVE 6000透過毫米波技術(shù)測(cè)量大管道
 
  PLANOWAVE 6000可用于測(cè)量板材擠出厚度
 
  由于SIKORA的PLANOWAVE 6000是一種非接觸式測(cè)量系統(tǒng),因此可用于塑料板材擠出過程中的無(wú)損厚度測(cè)量。該系統(tǒng)可測(cè)量由工程塑料如POM等和高性能塑料如PEEK等制成的板材。
 
  PLANOWAVE 6000還適用于透明和合成塑料的測(cè)量,如PMMA和PVC-FOAM,以及玻璃。
 
  該測(cè)量方法基于毫米波技術(shù),具有極高的測(cè)量精度,不受板材的材料和溫度影響。也不需要對(duì)材料進(jìn)行校準(zhǔn)。
 
  PLANOWAVE 6000可以在熱或冷的位置直接集成到生產(chǎn)線中。測(cè)量值結(jié)果可在處理器系統(tǒng)ECOCONTROL 6000的監(jiān)視器上實(shí)時(shí)顯示。

  PLANOWAVE 6000可測(cè)量由技術(shù)塑料如POM等和高性能塑料如PEEK等制成的板材厚度,以及透明塑料如PMMA和PVC-FOAM,以及玻璃。
 
  PURITY CONCEPT V :帶有顏色檢測(cè)的光學(xué)實(shí)驗(yàn)室測(cè)試系統(tǒng)
 
  SIKORA還推出了一種用于塑料材料測(cè)試的光學(xué)實(shí)驗(yàn)室測(cè)試系統(tǒng) —— PURITY CONCEPT V。
 
  該系統(tǒng)是一個(gè)自動(dòng)光桌,塑料顆粒放置在樣品托盤上,通過檢查區(qū)域移動(dòng)。數(shù)秒鐘內(nèi),材料就由一部彩色相機(jī)完成了檢查。
 
  投影儀在樣品盤上直接用光學(xué)的方法標(biāo)記了所有受污染的顆粒。通過評(píng)估圖像,可對(duì)50µm大小的透明、漫射和著色材料表面上的污染物,例如黑色斑點(diǎn)等進(jìn)行自動(dòng)檢測(cè)、檢視和數(shù)據(jù)分析,并且可隨時(shí)確定污染分布和進(jìn)行后續(xù)檢查。
 
  光學(xué)實(shí)驗(yàn)室測(cè)試系統(tǒng)的另一個(gè)特色就是自動(dòng)檢測(cè)顆粒的顏色偏差。

PURITY CONCEPT V用于塑料顆粒的光學(xué)樣品測(cè)試,它可以從中檢測(cè)黑色斑點(diǎn)
 
  PURITY CONCEPT V:進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)材料檢測(cè)
 
  “讓技術(shù)變得生動(dòng)起來(lái)”是SIKORA K展位的核心主題。PURITY CONCEPT V將提供在實(shí)驗(yàn)室環(huán)境下的現(xiàn)場(chǎng)材料測(cè)試服務(wù)。
 
  SIKORA在展會(huì)前已經(jīng)邀請(qǐng)客戶寄送顆粒樣品,屆時(shí)直接在展位上使用PURITY CONCEPT V進(jìn)行檢測(cè)和分析。又或者,訪客可以攜帶少量塑料顆粒直接到展位進(jìn)行檢測(cè)和評(píng)估。

SIKORA在K Preview中向傳媒展示的PURITY CONCEPT V產(chǎn)品
 
  PURITY CONCEPT X:采用X射線技術(shù)檢測(cè)金屬污染
 
  此外,SIKORA還展示了基于X射線的實(shí)驗(yàn)室設(shè)備PURITY CONCEPT X,用于檢查彩色顆粒中的金屬混合物,而這些夾雜物在光學(xué)系統(tǒng)中是不可見的。
 
  SIKORA PURITY CONCEPT X的自動(dòng)化操作原理于2016年就已推出,如今已成為SIKORA實(shí)驗(yàn)室測(cè)試系統(tǒng)的基礎(chǔ)組成。
 
  由于采用了X射線技術(shù),該系統(tǒng)還可檢測(cè)顆粒表面和內(nèi)部的污染。據(jù)悉,PURITY CONCEPT X尤其適合黑色和彩色材料的樣品檢測(cè)。此外,還可看到其用于高壓電纜絕緣的半導(dǎo)體材料的應(yīng)用潛能。
 
  另外,金屬污染,例如由擠出機(jī)中的金屬磨損引起的塑料顆粒金屬污染也能夠可靠地被檢測(cè)出來(lái)和實(shí)現(xiàn)全面分析。

基于X射線的PURITY CONCEPT X可離線檢測(cè)出塑料顆粒內(nèi)部的金屬污染物
 
  PURITY SCANNER ADVANCED:在線光學(xué)檢測(cè)和分揀
 
  SIKORA展臺(tái)的另一個(gè)亮點(diǎn):PURITY SCANNER ADVANCED,用于在線光學(xué)檢測(cè)和塑料材料分類的系統(tǒng)。
 
  該系統(tǒng)將X射線技術(shù)與多達(dá)四個(gè)黑白和/或彩色相機(jī)相結(jié)合。這種組合可確保檢測(cè)出顆粒內(nèi)部的金屬污染、顏色偏差及表面上的黑色斑點(diǎn)。受污染的顆粒被檢測(cè)到后就會(huì)被自動(dòng)分揀出來(lái)。
 
  憑借強(qiáng)大的處理器系統(tǒng)和智能軟件,PURITY SCANNER ADVANCED可謂一款可靠的質(zhì)量檢測(cè)設(shè)備。
 
  專業(yè)數(shù)據(jù)分析管理(PDAM)按生產(chǎn)過程中污染物的尺寸和頻率分類,以及結(jié)合光學(xué)相機(jī)和X射線照相機(jī)檢測(cè)到的顆粒圖像庫(kù),對(duì)檢測(cè)到的污染物進(jìn)行統(tǒng)計(jì)評(píng)估。
 
  而對(duì)于高物料吞吐量,該分揀系統(tǒng)可用作“Twin Pack”解決方案提供,該解決方案也將在K2019上展示。
 
  Twin Pack系統(tǒng)特別適用于光學(xué)分揀和應(yīng)用,其重點(diǎn)是更高的吞吐量。Twin Pack的吞吐量可達(dá)到每小時(shí)2噸
 
  “Innovation Corner”客戶互動(dòng)交流 ——碰撞出未來(lái)創(chuàng)新測(cè)量技術(shù)
 
  SIKORA致力于將創(chuàng)意轉(zhuǎn)化為實(shí)實(shí)在在的創(chuàng)新和新產(chǎn)品開發(fā),從而為軟管和管材、板材以及塑料行業(yè)提供高質(zhì)量的產(chǎn)品、實(shí)現(xiàn)工藝優(yōu)化和成本效益。
 
  SIKORA在K2019上透過 “創(chuàng)意角”(Innovation Corner)強(qiáng)調(diào)了這一點(diǎn)。該公司邀請(qǐng)客戶親自與SIKORA研究和開發(fā)專家一起,透過創(chuàng)意分享和頭腦風(fēng)暴,討論他們對(duì)測(cè)量技術(shù)未來(lái)質(zhì)量控制系統(tǒng)的見解、需求和技術(shù)要求。
 
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